Technical Note - Halbleiter-Wafer-Prüfung mit allPIXA wave

Mittwoch, 3. Juni 2020

Die Erfassung von Defekten ist für den Ertrag von Halbleiterwafer-Bauteilen entscheidend. Hier beschreiben wir, wie die Halbleiterwafer-Herstellung die Vorteile der ultrahohen Auflösung von 15.360 Pixeln und die reichhaltigen Funktionen der allPIXA wave nutzen kann, um die Vorteile der Inline-Inspektionssysteme zu nutzen.

Lesen Sie die komplette Application Note hier auf Englisch.